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Solution

解决方案

半导体生产中的晶圆定位检查应用

利用光纤单元,对送入工艺腔
室前的晶圆进行定位检查

  • 电子
  • 检查
  • 传感器

应用介绍

【行业】电子

【设备】Etch、PVD、CVD、ALD

应用场景

晶圆在送入工艺腔室前的定位检查。

解决课题

1、各工艺不断反复搬送晶圆,机械臂的位置和晶圆的位置都存在偏移的风险,需要准确判断晶圆的落座位置。

2、工艺腔室和传输腔室都为真空环境,无法直接安装常规的传感器使用,导致检测手段有限。

价值提案

核心产品:光纤单元 E32光纤放大器 E3NX-FA

价值点1.

a) E32系列备有直角螺母型光纤,可在狭小设备空间内实现灵活布线,减少安装过程中线缆被周边机械部件钩挂的风险,显著提升布线效率与长期使用可靠性;
b) E3NX-FA凭借高速的响应时间(最快30μs),可实时捕捉晶圆在传输或对位过程中的微小偏移,迅速反馈位置信息并联动设备调整,确保晶圆始终处于中心位置;
c) E3NX-FA备有S-TUNE智能调谐设定,两键自动设定光量和阈值,减小对射光纤安装的同心度误差。

价值点2.

a) 可穿过玻璃对真空内的wafer进行准确测量,在维持真空环境完整性的前提下,对内部晶圆进行高精度位置测量,重复精度高达2μm;
b) E32采用特殊设计的法兰结构,内部嵌有透光玻璃层,只将光从大气侧传输至真空侧,实现真空环境与外部检测系统的安全光路连接;
c) 由于使用密封法兰作为传导光的机构,安装时只需将光纤直接插入法兰接口即可完成光路连接,无需复杂校准或额外密封处理,显著简化设备集成步骤。

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