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欧姆龙全球

Solution

解决方案

IC芯片浮起的稳定检测方案

利用智能激光传感器,满足设备的小型
化设计,实现微小芯片浮起的稳定检测

  • 品质提升
  • 电子
  • 检查

应用介绍

【行业】SEMI

【设备】测试分选机

【用途】用于将IC芯片按照要求进行分类和分选

应用场景

tray盘内IC芯片的浮起检测。

解决课题

1、需要满足设备的小型化设计,达到省空间的目的。

2、实现对于芯片1mm浮起的稳定检测。

价值提案

核心产品:智能激光传感器 E3NC

价值点1.

备有网络型放大器,方便导入并监控传感器实时状态。同时,放大器采用分离设计,既保证了检测头的体积小,也可在不同环境下调整放大器设置。

价值点2.

1级激光光源,1m检测距离时的2mm光斑大小,确保IC芯片微小浮起的稳定检测。

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