E3AS-HF丨助力实现理想检测性能的核心技术

以往的长距离反射型传感器会受检测对象颜色和形状的影响，有时无法稳定检测。E3AS-HF融合多项核心技术，解决了传统反射型传感器在检测稳定性方面面临的挑战（如工件颜色、形状、表面特性及环境干扰）。通过以下关键技术设计，E3AS-HF实现了对各种复杂场景下工件的稳定、可靠检测。

助力实现理想检测性能的核心技术

采用TOF方式，可稳定检测各类工件

TOF方法通过时间差测量距离，受工件的颜色和材料影响较小。此外，由于受光量对TOF的影响也不大，因此即使是黑色橡胶等低反射率工件，也能实现远距离检测。

超高速采样和欧姆龙累计处理

对通过每秒100亿次的超高速采样获得的约1000万项数据进行累计处理，使受光波形更加清晰，并将干扰降至更低，从而稳定检测微弱的光。

使用1级激光，保障安全

在1级激光的限制范围内照射较强的投光功率，再结合最新设备和高频回路设计技术，可将激光的脉冲宽度控制为更窄。由此可减少保护作业人员安全和设备的措施，同时也能使设备更加紧凑，节省成本。

高灵敏度受光元件控制算法

配备可检测出微小受光量的高灵敏度APD*2。利用传感器内部的温度元件实时补偿温度，可抑制温度导致的特性变动，实现稳定检测

*2. APD : Avalanche Photo Diode（高灵敏度受光元件）

助力实现自动防止相互干扰功能的技术

每台传感器均有可防止相互干扰的投光模式。通过特别设计，即使发生误动作，也可通过手动设定应对。

通过以上核心技术的融合应用，E3AS-HF有效克服了工件颜色、材质反光、形状变化等常见干扰因素，即使在远距离、存在环境光干扰或需应对不同检测物等场景下，也能实现可靠的检测结果，助力实现自动化生产线的稳定运行。